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影响膜厚仪的测量因素

发布时间:2020-04-15人气:6

OU3500膜厚仪在测量物体时,除测量方法外,还会有其他因数会导致测量结果有所偏差,具体影响因数请看下表.
涂层测厚仪影响测量的因素对照表 :


测量方式法

磁性测量

涡流测量

基体金属磁性质


基体金属电性质


边缘效应

曲率

试件粗糙度

磁场


附着物质

测头压力

测头取向

基体金属厚度

试件的形状

涂层测仪除了可以测量磁性金属基体和非磁性基体上的涂层,亦可以测量金属电镀的膜厚仪,因此,涂层测厚仪,通常也称为涂膜厚仪 .
标签:膜厚仪 全部

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